[发明专利]磁记录介质的检测装置及其检测方法无效
| 申请号: | 200510097429.8 | 申请日: | 2005-12-28 |
| 公开(公告)号: | CN1917040A | 公开(公告)日: | 2007-02-21 |
| 发明(设计)人: | 普特波夫·维蒂莫;赵成训;李锡原;权宁健;金大锡;金洸秀;李文九 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
| 主分类号: | G11B5/00 | 分类号: | G11B5/00 |
| 代理公司: | 北京铭硕知识产权代理有限公司 | 代理人: | 郭鸿禧;邱玲 |
| 地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | 本发明涉及一种磁记录介质的检测装置及其检测方法。依据本发明所提供的磁记录介质的检测装置,包含:向所述磁记录介质发出光的外差激光器;使从所述磁记录介质反射的光按特定方向偏振的偏振部;用于接收偏振光的收光部;从接受到的光检测克尔磁信号的检测器;用于显示所检测到的所述克尔磁信号的显示部。据此,提供一种可以正确、简单地检测磁记录介质的克尔磁信号的光学设备检测装置及其检测方法。 | ||
| 搜索关键词: | 记录 介质 检测 装置 及其 方法 | ||
【主权项】:
1、一种磁记录介质的检测装置,其特征在于包含:向所述磁记录介质发出光的外差激光器;使从所述磁记录介质反射的光按特定方向偏振的偏振部;用于接收偏振光的收光部;从所接受到的光检测克尔磁信号的检测器;用于显示所检测到的所述克尔磁信号的显示部。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于三星电子株式会社,未经三星电子株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200510097429.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。





