[发明专利]一种提高光电元件耦合容忍度的方法无效

专利信息
申请号: 200510091899.3 申请日: 2005-08-15
公开(公告)号: CN1731230A 公开(公告)日: 2006-02-08
发明(设计)人: 何充隆;刘一鸣;林恭政;洪朝基;黄雍勋;杨智超;林佳儒;何文章;廖枝旺 申请(专利权)人: 中华电信股份有限公司
主分类号: G02B6/36 分类号: G02B6/36;G02B6/42
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司 代理人: 曾旻辉;胡杰
地址: 台湾省桃园县杨梅镇*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种提高光电元件耦合容忍度的方法,其通过半导体制作工艺,如微影、沉积、镀着、蚀刻等,在光电元件晶粒上形成一定位及固定用之微球透镜嵌座(Micro Ball-lensSocket),嵌座中心对应光电元件晶粒的光耦合或输出中心;将微球透镜嵌入晶粒上之微球透镜嵌座后,微球透镜即自动对准晶粒的光耦合或输出中心;通过整合适当之微球透镜,光电元件的后续封装光学耦合容忍度可扩大数倍,甚至可在无特性监测、不倚赖光学对准之状况下,完成光学耦合,达到高精度被动封装的目的。
搜索关键词: 一种 提高 光电 元件 耦合 容忍度 方法
【主权项】:
1.一种提高光电元件耦合容忍度的方法,其特征在于,其通过在光电元件上形成微球透镜嵌座,并将微球透镜嵌入固定在此嵌座中。
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