[发明专利]软性显示介质层的检测方法与装置无效
| 申请号： | 200510090747.1 | 申请日： | 2005-08-15 |
| 公开（公告）号： | CN1916648A | 公开（公告）日： | 2007-02-21 |
| 发明（设计）人： | 林雁容;郑协昌;廖奇璋;施宙聪 | 申请（专利权）人： | 财团法人工业技术研究院 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G02F1/13 |
| 代理公司： | 北京连和连知识产权代理有限公司 | 代理人： | 陈星 |
| 地址： | 中国台湾新竹*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 一种软性显示介质层的检测方法，包括提供要被检测的软性显示介质层，其中预定形成于该软性显示介质层的驱动电极结构尚未完成制造或是没有该驱动电极结构。软性显示介质层通过检测区域。接着进行性能检测，以检测该软性显示介质层在通过检测区域的对应区域上的性能。将检测结果记录或显示，其中根据该性能的程度，以记录或显示该软性显示介质层的性能信息。另外，一种软性显示介质层的检测装置，配合上述方法以检测该软性显示介质层。 | ||
| 搜索关键词： | 软性 显示 介质 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种软性显示介质层的检测方法，其特征在于包括：提供要被检测的软性显示介质层，其中预定形成于该软性显示介质层的驱动电极结构尚未完成制造或是没有该驱动电极结构；使该软性显示介质层相对通过检测区域；进行性能检测，以检测该软性显示介质层在通过检测区域的对应区域上的性能；以及记录、标记或显示检测结果，以获得该软性显示介质层的性能信息。
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