[发明专利]纵横开关调试有效
| 申请号： | 200510088233.2 | 申请日： | 2005-07-29 |
| 公开（公告）号： | CN1728105A | 公开（公告）日： | 2006-02-01 |
| 发明（设计）人： | J·R·格林纳;C·P·伍迪;R·麦克法兰德;T·J·约翰逊;G·B·赖萨特尔;J·W·伯克豪斯 | 申请（专利权）人： | 惠普开发有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/267 | 分类号： | G06F11/267 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 杨凯;王忠忠 |
| 地址： | 美国德*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 一种具有多个端口(301、302、303、304、305、306、307、308)的纵横开关(300)，它使得可以利用多个端口之一对纵横开关(300)执行调试过程，以输出芯片的状态信息。所述纵横开关利用调试块(317)来存储芯片的状态信息。 | ||
| 搜索关键词： | 纵横 开关 调试 | ||
【主权项】：
1.一种纵横开关(300)，它包括：多个端口(301、302、303、304、305、306、307、308)；以及调试块(317)，用于存储芯片状态信息，它连接到从所述多个端口中选择的一个选择端口。
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