[发明专利]量化电路板上离子污染度的方法无效
| 申请号： | 200510067989.9 | 申请日： | 2005-04-30 |
| 公开（公告）号： | CN1858576A | 公开（公告）日： | 2006-11-08 |
| 发明（设计）人： | 徐焰;陈普养 | 申请（专利权）人： | 华为技术有限公司 |
| 主分类号： | G01N17/02 | 分类号： | G01N17/02;G01N27/26 |
| 代理公司： | 北京凯特来知识产权代理有限公司 | 代理人： | 郑立明 |
| 地址： | 518129广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种量化电路板上离子污染度的方法，该方法在施加离子污染过程中，在污染液标准食盐水中添加常温下可挥发并能与水互溶的有机溶剂，如分析纯的无水乙醇或异丙醇类，达到减小溶液表面张力，均匀润湿梳状电极的目的；采用刮的方式，使污染液均匀覆盖在梳状电极表面，形成均匀的润湿的液膜。因此，利用本发明可以直接计算出电路板上梳状电极间的离子污染度，误差很小，适合用来分析离子污染度对离子迁移腐蚀的影响。同时，本发明可以根据残留在梳状电极上的污染液液膜体积，直接计算出使用不同浓度食盐水溶液作为污染液所得到的离子污染度，而不必重复整个标定离子污染度的实验过程，方法简单，数据准确。 | ||
| 搜索关键词： | 量化 电路板 离子 污染 方法 | ||
【主权项】：
1、一种量化电路板上离子污染度的方法，包括如下步骤：A、在作为污染液的标准食盐水中添加常温下可挥发并能与水互溶的有机溶剂；B、将所述污染液滴在待测试的试验板的梳状电极上，并使所述污染液液滴均匀覆盖在所述梳状电极上，形成均匀液膜；C、测量所述梳状电极上所含氯化钠当量；D、根据所述梳状电极上所含氯化钠当量和所述梳状电极面积，计算出所述梳状电极间的离子污染度。
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