[发明专利]测试信号发生电路和接收电路无效
申请号: | 200510063199.3 | 申请日: | 2005-04-06 |
公开(公告)号: | CN1681230A | 公开(公告)日: | 2005-10-12 |
发明(设计)人: | 冈信大和 | 申请(专利权)人: | 索尼株式会社 |
主分类号: | H04B17/00 | 分类号: | H04B17/00;H04B1/16 |
代理公司: | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 董方源 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供了一种测试信号发生电路和接收电路。测试信号发生电路包含调谐电路、用于形成正交本振信号的本振电路、用于通过本振信号将接收信号变频成IF信号的第一混频电路、用于从第一混频电路的输出中抽取IF信号的IF滤波器、用于移动由IF滤波器抽取的IF信号的相位的移相电路、用于通过将移相电路的输出相加/减而输出IF信号的第一计算电路、用于形成具有与该IF信号频率相等的频率的正交交流信号的形成电路、用于接收该交流信号和本振信号的第二混频电路,以及用于通过将第二混频电路的输出相加/减而输出信号的第二计算电路,其中,第二计算电路的输出被提供到调谐电路作为测试信号。 | ||
搜索关键词: | 测试 信号 发生 电路 接收 | ||
【主权项】:
1.一种测试信号发生电路,包括:调谐电路,用于拾取具有期望频率的接收信号;本振电路,用于形成一对正交本振信号;一对第一混频电路,用于通过使用所述一对本振信号,将所述接收信号变频为一对中频信号;一对中频滤波器,用于从所述一对第一混频电路的输出信号中抽取所述一对中频信号;一对移相电路,用于移动由所述一对中频滤波器抽取的所述一对中频信号的相位;第一计算电路,用于通过将所述一对移相电路的输出信号相加或相减,输出中频信号;信号形成电路,用于形成具有与所述一对中频信号的中频相等的频率的一对正交交流信号;一对第二混频电路,用于接收所述一对交流信号和所述一对本振信号;和第二计算电路,用于通过将所述一对第二混频电路的输出相加或相减,输出具有期望频率或镜像频率的信号,其中所述第二计算电路的输出信号被提供到所述调谐电路作为测试信号。
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