[发明专利]用于测试装置的平行校准系统无效
| 申请号： | 200510056470.0 | 申请日： | 2005-03-22 |
| 公开（公告）号： | CN1719275A | 公开（公告）日： | 2006-01-11 |
| 发明（设计）人： | 罗米·迈德尔;托德·舒尔;纳赛尔·阿里·加法里;安德鲁·谢;兰迪·L·贝利 | 申请（专利权）人： | 安捷伦科技公司 |
| 主分类号： | G01R35/00 | 分类号： | G01R35/00 |
| 代理公司： | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 王允方;刘国伟 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明揭示一种用于一电子电路测试仪的平行校准系统，其包括测试及测量电子装置、及一耦合至所述测试及测量电子装置的测试夾具。所述测试夾具包括：时钟基准电路及时钟分配电路、一受试装置接口及耦合至所述受试装置接口的多个校准板，其中所述多个校准板及所述时钟分配电路同时测试多个测试通道的信号路径。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测试 装置 平行 校准 系统 | ||
【主权项】：
1、一种用于一电子电路测试仪的平行校准系统，其包括：测试及测量电子装置；一耦合至所述测试及测量电子装置的测试夾具，所述测试夾具包括时钟基准电路及时钟分配电路；一受试装置接口；及多个耦合至所述受试装置接口的校准板，其中所述多个校准板及所述时钟分配电路同时测试多个测试通道的信号路径。
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