[发明专利]串扰校正方法和X射线计算机断层扫描设备

摘要

为了提供易于消除切片方向上相邻的闪烁器之间出现的荧光渗漏的串扰校正方法，信道方向上的第一函数拟合部件51和切片方向上的第二函数拟合部件53从倾斜模型投影信息41确定理想投影长度ln(D_n)，式(1)则用来确定渗漏系数ε₊和ε_－，随后，串扰消除部件82采用式(2)和渗漏系数ε₊和ε_－、从构成关于受检者的受检者投影信息42的检测信息S_n确定强度信息D_n；这样，受检者投影信息42中包含的切片方向上相邻的闪烁器的渗漏分量通过简易方法被消除，以便消除因切片方向上的渗漏引起的人为现象，从而提高图像质量。

主权项

1.一种串扰校正方法，包括以下步骤：当用于检测具有一定厚度的扇状展开的X射线束的强度的多个闪烁器(24)呈现为排列在一般垂直于所述X射线束的照射方向的矩形面中的二维阵列(24)，并且关于各所述闪烁器(24)所检测的所述X射线束的信息包含与到达所述闪烁器(24)的X射线束的强度成比例的强度信息以及来自在作为所述厚度方向的所述二维阵列(24)的切片方向上相邻的闪烁器(24)的、与到达所述相邻闪烁器(24)的X射线束的强度成比例的渗漏信息时，从到达所述相邻闪烁器(24)的X射线束的强度来计算用于估算所述渗漏信息量的渗漏系数，分别求出沿所述切片方向的第一方向上的第一渗漏系数以及与所述第一方向相反的第二方向上的第二渗漏系数；以及采用所述渗漏系数来消除在所述多个闪烁器(24)上检测的信息中包含的所述渗漏信息，从而确定所述强度信息。