[发明专利]用于X射线荧光光谱分析的特效熔剂无效
| 申请号： | 200510044296.8 | 申请日： | 2005-08-24 |
| 公开（公告）号： | CN1800811A | 公开（公告）日： | 2006-07-12 |
| 发明（设计）人： | 袁家义;白雪冰;吕振生 | 申请（专利权）人： | 袁家义;白雪冰;吕振生 |
| 主分类号： | G01N1/28 | 分类号： | G01N1/28;G01N23/223;C21B3/02;C22C1/06;C22B9/10 |
| 代理公司： | 济南信达专利事务所有限公司 | 代理人： | 姜明 |
| 地址： | 250013山*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于X射线荧光光谱分析的特效熔剂，它由以下重量配比的成分构成：Li2B4O7：75－95份；Li2CO3：3－20份；Ca2CO3：2－5份。由于本发明的熔剂添加了适量的碱性成分，和现有技术的熔剂相比，可以有效的消除酸性样品中的不熔物，使样品和熔剂混合十分均匀，从而制得玻璃化程度极高又不易碎裂的熔片，进而使分析更方便，使分析结果更精。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 射线 荧光 光谱分析 特效 熔剂 | ||
【主权项】：
1、用于X射线荧光光谱分析的特效熔剂，其特征在于它由以下重量配比的成分构成：Li2B4O7：75-95份 Li2CO3：3-20份 Ca2CO3：2-5份LiF：0.01份。
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