[发明专利]一种基于DSP的试验机测控器及其测控方法有效
| 申请号： | 200510036643.2 | 申请日： | 2005-08-13 |
| 公开（公告）号： | CN1766767A | 公开（公告）日： | 2006-05-03 |
| 发明（设计）人： | 黄志方;雷庆安;王欢;何楚平 | 申请（专利权）人： | 深圳市新三思材料检测有限公司 |
| 主分类号： | G05B15/02 | 分类号： | G05B15/02;G01N3/00 |
| 代理公司： | 深圳市康宏知识产权代理事务所 | 代理人： | 胡朝阳 |
| 地址： | 518000广东省深圳*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开一种基于DSP的试验机测控器及其测控方法，包括：处理器单元、数据采集单元、控制输出单元、通讯接口单元及人机接口单元；通过以专用DSP处理器作为主控器，采用了力、变形、位移三闭环全数字控制算法，结合数据采集单元、控制输出单元，以及采用USB通讯方式的通讯接口单元，使该测控器具有实时性高、数据采集性精度高、控制实现三闭环且无冲击切换、体积小、成本低、易维护等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 dsp 试验 测控 及其 方法 | ||
【主权项】：
1.一种基于DSP的试验机测控器，包括：处理器、数据采集单元、控制输出单元、通讯接口单元及人机接口单元；其特征在于：所述的处理器采用DSP作为主控器，其上设置有初始化模块、系统管理模块、USB通讯协议模块、外设模块、8路A/D数据采集模块、3路光电编码器数据采集模块、控制及运行管理模块和驱动模块，通过计算机控制执行力、变形、位移三闭环全数字控制；数据采集单元包括模拟信号采集电路和数字信号采集电路，其中模拟信号采集电路包括有24bit高精度A/D转换器，增益可在线编程；控制输出单元包括有模拟信号输出电路和数字信号输出电路；通讯接口单元采用USB通讯接口方式。
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