[发明专利]一种颗粒粒径分布的测量方法

摘要

一种颗粒粒径分布的测量方法，属于颗粒样品检测技术领域。为了解决现有常用的颗粒粒径分布测量方法不能全面和灵活地反映颗粒样品的粒径分布情况的问题，本发明提供了一种颗粒粒径分布的测量方法，步骤如下：将颗粒样品均匀分散到置于白色背光板上的玻璃样品槽中，样品颗粒个数为50～500，并将尺寸标定物放入所述玻璃样品槽中；用数码照相机拍摄出所述颗粒样品的图像，并将图像导入计算机，之后利用存储在计算机中的图像分析程序处理所述图像，得到各颗粒的粒径和圆形度；根据粒径划分，输出颗粒样品的粒径个数分布、体积分布或重量分布结果。本发明所述方法具有分析对象广泛，取样量少，快速准确，数据结果丰富，重现性好的特点。

主权项

1.一种颗粒粒径分布的测量方法，其特征在于，所述方法的步骤如下：1)将粒径范围为0.1～5.0mm的球形或近球形颗粒样品均匀分散到置于白色背光板上的玻璃样品槽中，样品颗粒个数为50～500，并将尺寸标定物放入所述玻璃样品槽中；2)用数码照相机拍摄出所述颗粒样品的图像，并将图像导入计算机，之后利用存储在计算机中的图像分析程序处理所述图像，图像分析程序的处理步骤为：2.1)将图像色彩由彩色转换为黑白；2.2)通过尺寸标定物，确定实物长度与像素长度的比例关系；2.3)根据颗粒样品粒径分布的下限，将图像中大于或等于所述下限的颗粒自动编号，并计算出各颗粒的粒径和圆形度；2.4)根据粒径划分，输出颗粒样品的粒径个数分布、体积分布或重量分布结果。