[发明专利]光学记录介质、用于在光学记录介质中记录数据/从光学记录介质再现数据的设备及方法无效
| 申请号： | 200480039940.6 | 申请日： | 2004-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN1902688A | 公开（公告）日： | 2007-01-24 |
| 发明（设计）人： | 黄盛熙;高祯完 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G11B7/007 | 分类号： | G11B7/007;G11B20/18;G11B20/12 |
| 代理公司： | 北京铭硕知识产权代理有限公司 | 代理人： | 郭鸿禧;刘奕睛 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 本发明涉及一种其上布置有导入区、数据区和导出区的信息记录介质、用于将数据记录在该信息记录介质上/从该信息记录介质再现数据的设备和方法、以及存储用于执行将数据记录在信息记录介质上的方法的程序的计算机可读记录介质。其中，导入区或导出区包括用于记录关于缺陷管理和记录管理的信息的盘定义结构(DDS)/记录管理数据(RMD)区，用于缺陷管理的DDS和RMD被写入DDS/RMD区中。数据区包括备用区(SA)/缺陷列表(DL)区，所述SA/DL区用于记录替换信息记录介质上的缺陷数据的替换数据以及与信息记录介质上出现的缺陷有关的缺陷信息，DDS/RMD块被记录在DDS/RMD区的第一可记录部分中，所述DDS/RMD块包括用于管理信息记录介质的数据区分配信息和初始化信息，所述数据区分配信息包括布置在数据区中的DDS/RMD区的位置信息以及SA/DL区的位置信息。从而可通过有效管理盘上的缺陷来有效管理盘的存储容量。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 记录 介质 用于 数据 再现 设备 方法 | ||
【主权项】：
1、一种信息记录介质，其上布置有导入区、数据区和导出区，其中，导入区或导出区包括用于记录关于缺陷管理和记录管理的信息的盘定义结构(DDS)/记录管理数据(RMD)区，用于缺陷管理的DDS以及RMD被写入DDS/RMD区中，数据区包括备用区(SA)/缺陷列表(DL)区，所述SA/DL区用于记录替换信息记录介质上的缺陷数据的替换数据以及与信息记录介质上出现的缺陷有关的信息，DDS/RMD块被记录在DDS/RMD区的第一可记录部分中，所述DDS/RMD块包括用于管理信息记录介质的数据区分配信息和初始化信息，所述数据区分配信息包括布置在数据区中的DDS/RMD区的位置信息以及SA/DL区的位置信息。
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