[发明专利]用于手征性分析的微分光学技术无效
申请号: | 200480035679.2 | 申请日: | 2004-10-12 |
公开(公告)号: | CN1890542A | 公开(公告)日: | 2007-01-03 |
发明(设计)人: | P·R·吉布斯 | 申请(专利权)人: | 斯埃诺公司 |
主分类号: | G01J4/00 | 分类号: | G01J4/00 |
代理公司: | 北京市中咨律师事务所 | 代理人: | 杨晓光;于静 |
地址: | 美国佐*** | 国省代码: | 美国;US |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种微分方法,该方法确定对光传输的限定点的偏移(例如偏离零位±45°,或零位90°和平行0°),并利用两个信号的耦合特性来用于共模噪声衰减和信号增强。调制(130)施加到手征混合物(140)的光束(104),且然后通过偏振器或棱镜(142)将其分成第一束(146)和相关的正交束(148)。在执行信号的微分比较(170)之前将第一束(146)和正交束(148)转化成电子信号(150)(152),以检测手征混合物内的希望的手征物质。 | ||
搜索关键词: | 用于 手征性 分析 微分 光学 技术 | ||
【主权项】:
1.一种检测手征样品的旋光角度的方法,包括下述步骤:产生输入光束;使所述输入光束偏振,以获得线性偏振光束;调制所述线性偏振光束,使其至少基本上在光传输的中点附近,以产生调制的光束;将所述调制的光束传输通过样品溶液以获得信号束;将所述信号束分成第一偏振信号束和第二偏振信号束,所述第二偏振信号束与所述第一偏振信号束正交;测量所述第一偏振信号束和第二偏振信号束的光强度;将所述第一偏振信号束和第二偏振信号束的光强度转换成第一信号电压或电流和第二信号电压或电流;以及从所述第一信号电压或电流中减去所述第二信号电压或电流,以获得相应于所述手征样品的旋光角度的两倍的输出信号电压或电流。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于斯埃诺公司,未经斯埃诺公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200480035679.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。