[发明专利]荧光测定装置无效

专利信息
申请号: 200480033532.X 申请日: 2004-10-19
公开(公告)号: CN1882828A 公开(公告)日: 2006-12-20
发明(设计)人: 田口武司;平松光夫 申请(专利权)人: 浜松光子学株式会社
主分类号: G01N21/03 分类号: G01N21/03
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司 代理人: 龙淳
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种荧光测定装置,其具有用于能够在短时间内很容易地进行微量试料的荧光测定的构造。该荧光测定装置包括:激励光源、吸量管装置、安装在该吸量管装置上的管尖、以及荧光检测系统。吸量管装置由吸量管以及具有用于将激励光导入内部空间内的激励光导入构造的吸量管适配器构成,从吸入口获取的荧光试料被保存在管尖顶端。从激励光源发出的激励光通过激励光导入构造并经由吸量管适配器的内部空间而照射在管尖顶端的荧光试料上,从该荧光试料发出荧光。荧光检测系统接受因该激励光照射而产生的荧光的至少一部分。
搜索关键词: 荧光 测定 装置
【主权项】:
1.一种荧光测定装置,其特征在于,包括:输出激励光的激励光源;具有第一内部空间的吸量管;管尖,其是具有第二内部空间的管尖,在顶端设置有吸入通过所述激励光的照射而发出规定波长荧光的试料的吸入口;吸量管适配器,是配置在所述吸量管与所述管尖之间、并具有连接所述吸量管的第一内部空间与所述管尖的第二内部的第三内部空间的吸量管适配器,其具有用于将从所述激励光源向所述第三内部空间内射出的激励光导入所述管尖的吸入口的激励光导入构造;以及荧光检测系统,检测从通过所述管尖的吸入口吸入的试料所发出的荧光。
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