[发明专利]时间分解测定装置无效
申请号: | 200480017606.0 | 申请日: | 2004-06-24 |
公开(公告)号: | CN1809741A | 公开(公告)日: | 2006-07-26 |
发明(设计)人: | 西泽充哲;平井伸幸 | 申请(专利权)人: | 浜松光子学株式会社 |
主分类号: | G01N21/62 | 分类号: | G01N21/62 |
代理公司: | 北京纪凯知识产权代理有限公司 | 代理人: | 龙淳 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供一种时间分解测定装置(100),从安装于光电子倍增管(14)中的微通道片(30)的输出端子(34)取得检测定时脉冲。位置时间测定电路(16)产生表示与试料(10)的激励同步的基准时间脉冲和检测定时脉冲之间的时间差的信号,并送往数据处理装置(18)。数据处理装置将此时间差作为发光的检测时刻存储。数据处理装置根据微通道片上的检测定时脉冲的产生位置与输出端子之间的距离修正检测时刻。由此,时间分解测定的精确度提高。 | ||
搜索关键词: | 时间 分解 测定 装置 | ||
【主权项】:
1.一种时间分解测定装置,取得通过试料的激励发出的量子线的位置信息和定时信息,其特征在于,具备:信号发生器,与所述试料的激励同步,产生基准时间脉冲;检测装置,检测所述量子线,产生对应于检测位置的位置信号和与检测定时同步的检测定时脉冲;位置演算器,使用所述位置信号算出所述检测位置;时间差测量器,测量所述基准时间脉冲与所述检测定时脉冲之间的时间差;和数据处理装置,将所述位置演算器算出的所述检测位置与所述时间差测量器测量的所述时间差相对应地存储,所述检测装置具有位置检测型电子倍增管,所述电子倍增管具有在与朝向所述量子线的所述电子倍增管的入射位置对应的位置产生电子,并在维持该位置的同时倍增所述电子的微通道片,和与所述微通道片电气连接的输出端子,所述检测定时脉冲根据所述微通道片倍增的电子从所述微通道片放出时的电位变化产生,所述检测定时脉冲从所述微通道片通过所述输出端子送至所述时间差测量器,所述数据处理装置根据所述微通道片上的所述检测定时脉冲的产生位置与所述输出端子之间的距离修正所述时间差,将修正的时间差与所述检测位置相对应地存储。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于浜松光子学株式会社,未经浜松光子学株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200480017606.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一字码输入方法及系统
- 下一篇:热塑性聚酰亚胺微孔材料及制备工艺