[发明专利]确定磁共振系统调制转换函数方法、仿真条纹结构和装置有效
| 申请号： | 200410102139.3 | 申请日： | 2004-12-20 |
| 公开（公告）号： | CN1629651A | 公开（公告）日： | 2005-06-22 |
| 发明（设计）人： | 索尔斯坦·斯佩克纳 | 申请（专利权）人： | 西门子公司 |
| 主分类号： | G01R33/20 | 分类号： | G01R33/20 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 马莹;邵亚丽 |
| 地址： | 联邦德*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于确定磁共振系统的调制转换函数(MTF)的方法。首先借助有关磁共振系统拍摄与一个截面图像拍摄平面(BE)交叉的仿真模型(1)的条纹结构(S、S1、S2、S3、S4、S5、S6)的截面图像，该仿真模型(1)具有多个交替设置的、并具有预定周期(L)的在磁共振下活动的材料层(6)和在磁共振下不活动的材料层(7)，其中在磁共振下活动的材料层(6)比在磁共振下不活动的材料层(7)厚。然后确定位于特定图像区域(ROI)中的图像点的强度值的平均值(<|b(x)|>)和标准偏差(σ)之商，并借助所确定的商确定调制转换函数。此外还描述了相应的仿真模型条纹结构和用于确定调制转换函数的装置。 | ||
| 搜索关键词： | 确定 磁共振 系统 调制 转换 函数 方法 仿真 条纹 结构 装置 | ||
【主权项】：
1.一种用于确定磁共振系统的调制转换函数(MTF)的方法，其中，-首先借助有关磁共振系统拍摄与一个截面图像拍摄平面(BE)交叉的仿真模型(1)的条纹结构(S、S1、S2、S3、S4、S5、S6)的截面图像，该仿真模型(1)具有多个交替设置的、并具有预定周期(L)的在磁共振下活动的材料层(6)和在磁共振下不活动的材料层(7)，-然后确定位于特定图像区域(ROI)中的图像点的强度值的平均值(<|b(x)|>)和标准偏差(σ)之商，-并借助所确定的商来确定所述调制转换函数，其特征在于，采用仿真模型条纹结构(S、S1、S2、S3、S4、S5、S6)，其在磁共振下活动的材料层(6)比在磁共振下不活动的材料层(7)厚。
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