[发明专利]用于检测预制凹坑信号的设备和方法无效
| 申请号： | 200410101712.9 | 申请日： | 2004-12-23 |
| 公开（公告）号： | CN1645486A | 公开（公告）日： | 2005-07-27 |
| 发明（设计）人： | 元裕灿 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G11B7/00 | 分类号： | G11B7/00;G11B7/004;G11B7/09 |
| 代理公司： | 北京铭硕知识产权代理有限公司 | 代理人： | 郭鸿禧;安宇宏 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 公开了一种预制凹坑信号检测设备及其方法。根据本发明实施例，通过根据在由光学拾取器检测到的信号的基础上产生的射频(RF)和信号，对推挽信号调整放大级别，从接近标记区域的预制凹坑检测的信号与从接近空白区域的预制凹坑检测到的信号之间的电平差别可被减小。因此，形成在槽脊轨道中的预制凹坑信号可被有效地检测。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 检测 预制 信号 设备 方法 | ||
【主权项】：
1、一种用于在具有凹槽轨道和槽脊轨道的光学记录介质中检测形成于槽脊轨道中的预制凹坑信号的设备，该设备包括：第一放大器和第二放大器，用于按不同放大程度来放大基于光学拾取器输出的信号而产生的推挽信号；多路复用器(MUX)，用于基于分界为数字数据的射频(RF)和信号来向第一和第二放大器输出推挽信号；和比较器，用于将放大的推挽信号与预设分界电平进行比较，并且输出预制凹坑信号。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于三星电子株式会社，未经三星电子株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200410101712.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：显示装置
- 下一篇：涡轮覆环不对称的冷却元件
