[发明专利]加热磁随机存取存储单元以易于状态转换有效
申请号: | 200410090531.0 | 申请日: | 2004-10-29 |
公开(公告)号: | CN1612263A | 公开(公告)日: | 2005-05-04 |
发明(设计)人: | H·李;T·C·安东尼;M·沙马 | 申请(专利权)人: | 惠普开发有限公司 |
主分类号: | G11C11/15 | 分类号: | G11C11/15;H01L43/00 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 杨凯;梁永 |
地址: | 美国德*** | 国省代码: | 美国;US |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种制造磁随机存取存储器(MRAM)(100,200,300)的方法,此方法可降低MRAM阵列中存储单元(102,202,302,402)的热传导。此方法利用位线和字线(110,112,210,304,404,406)格栅来选择性地存取磁存储单元(102,202,302,402)阵列中的数据。所述栅格具有多个热阻和电阻部分(116,214,304,404),它们提供对磁存储单元(102,202,302,402)的连接。电阻性部分(116,214,304,404)增加了对各存储单元(102,202,302,402)所产生的热的热阻且在工作时提供对有源存储单元(102,202,302,402)的局部加热,以方便于单元状态的转换。 | ||
搜索关键词: | 加热 随机存取 存储 单元 易于 状态 转换 | ||
【主权项】:
1.一种磁随机存取存储器(100,200,300),它包括:磁存储单元(102,202,302,402)阵列,它们以不同的阻抗值存储数据;位线和字线(110,112,114,210,212,304,404,406)网格,用于选择性地存取所述磁存储单元(102,202,302,402)阵列中的数据;以及多个相应的电阻器(116,214,304,404),它们各自与所述磁存储单元(102,202,302,402)以及所述位线和字线(110,112,114,210,212,304,404,406)之一串联;其中,所述相应的电阻器(116,214,304,404)导致对所述磁存储单元(102,202,302,402)中选择的磁存储单元的局部加热,这有助于所述磁存储单元的转换。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于惠普开发有限公司,未经惠普开发有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200410090531.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。