[发明专利]按键的电子规格测试系统无效
| 申请号： | 200410089733.3 | 申请日： | 2004-11-03 |
| 公开（公告）号： | CN1769917A | 公开（公告）日： | 2006-05-10 |
| 发明（设计）人： | 蓝世杰 | 申请（专利权）人： | 金宝电子工业股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/02 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 周长兴 |
| 地址： | 台湾省*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明是有关于一种按键电子规格测试系统，其包括一待测电子产品及一微控制装置，待测电子产品具有至少一按键，该按键对应有一按键脚位；微控制装置具有一测试脚位以连接至该待测电子产品的按键脚位，该微控制装置在该测试脚位产生连续的模拟按键波形以测试该电子产品，其中，模拟按键波形是在一取样时间中，提供一持续第一时间的第一位准、及持续第二时间的第二位准，当中，第二时间为取样时间减去该第一时间。 | ||
| 搜索关键词： | 按键 电子 规格 测试 系统 | ||
【主权项】：
1.一种按键的电子规格测试系统，包括：一待测电子产品，具有至少一按键，该按键对应有一按键脚位；一微控制装置，具有一测试脚位以连接至该待测电子产品的按键脚位，该微控制装置在该测试脚位产生连续的模拟按键波形以测试该电子产品，其中，模拟按键波形是在一取样时间中，提供一持续第一时间的第一位准、及持续第二时间的第二位准，当中，第二时间为取样时间减去该第一时间。
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