[发明专利]内建自我测试锁相回路的抖动信号电路装置及其方法无效

专利信息
申请号: 200410086523.9 申请日: 2004-10-21
公开(公告)号: CN1763552A 公开(公告)日: 2006-04-26
发明(设计)人: 陈昱辰 申请(专利权)人: 扬智科技股份有限公司
主分类号: G01R29/02 分类号: G01R29/02;H03L7/08
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 代理人: 王学强
地址: 台湾省*** 国省代码: 中国台湾;71
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种内建自我测试(BIST)锁相回路(PLL)的抖动(Jitter)信号电路装置及其方法,用以解决测试锁相回路的抖动信号时所遭遇的高频信号不易处理与测试的问题。该内建自我测试锁相回路的抖动信号电路装置,是包含:一锁相回路单元电性连接一降频单元,该降频单元电性连接一信号转换单元,另一信号运算单元电性连接该信号转换单元,提供一输入信号至该锁相回路单元使其运行后,由该信号转换单元输出一自测输出信号,该自测输出信号可呈现该锁相回路单元的抖动信号发生情形。本发明目的是为降低测试锁相回路的抖动信号时所遭遇的高频信号。
搜索关键词: 自我 测试 回路 抖动 信号 电路 装置 及其 方法
【主权项】:
1.一种内建自我测试锁相回路的抖动信号电路装置,其特征在于包含:一锁相回路单元,是用以产生一频率稳定及一多频输出的信号;一输入信号,是电性连接于该锁相回路单元,用以提供其工作所需的频率信号;一降频单元,是电性连接于该锁相回路单元与该输入信号,用以降低信号的频率;一信号转换单元,是电性连接于该降频单元,用以进行信号转换;一信号运算单元,是电性连接于该信号转换单元,用于取得信号间的差值;以及一自测输出信号,是电性连接于该信号转换单元,用以呈现该锁相回路单元的抖动信号发生情形;借此,该锁相回路单元输出一反馈信号与该输入信号分别输入该降频单元;及其中该信号转换单元传送信号至该信号运算单元进行运算并取得信号间的差值后,该信号运算单元将该差值信号输出回该信号转换单元。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于扬智科技股份有限公司,未经扬智科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200410086523.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top