[发明专利]带检验信号监控功能的检验装置及遥控检验系统无效
| 申请号： | 200410085249.3 | 申请日： | 2004-10-09 |
| 公开（公告）号： | CN1605882A | 公开（公告）日： | 2005-04-13 |
| 发明（设计）人： | 小泉几夫 | 申请（专利权）人： | 株式会社理光 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/304 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 杨梧;邵亚丽 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明涉及带检验信号监控功能的检验装置及遥控检验系统。检验装置10包括：接口部1，按照PCI，ISA，PC卡等标准，控制与外部装置的连接；基板检验部2，从外部装置经接口部1输入检验用数据，将该检验用数据通过外部输出端3向被检验基板输出，从被检验基板输出与检验用数据对应的处理后数据，再经外部输入端4输入，根据该处理后数据判定该被检验基板是否合格；监控部5，取入基板检验部2与外部输出端3之间传送的检验用数据，取入基板检验部2与外部输入端4之间传送的处理后数据，作为监控用信号，经接口部1向外部装置输出。按照本检验装置，不需要设置观测探测器，能监控与实机环境相同的电路基板的信号。 | ||
| 搜索关键词： | 检验 信号 监控 功能 装置 遥控 系统 | ||
【主权项】：
1.一种具有检验信号监控功能的检验装置，其特征在于，包括：接口部，控制与外部装置连接；基板检验部，从上述外部装置经上述接口部输入检验用数据，将该检验用数据通过外部输出端向被检验基板输出，从上述被检验基板输出与上述检验用数据对应的处理后数据，再经外部输入端输入，上述基板检验部根据该处理后数据判定该被检验基板是否合格；监控部，取入上述基板检验部与外部输出端之间传送的检验用数据，取入上述基板检验部与外部输入端之间传送的处理后数据，作为监控用信号，经上述接口部，向上述外部装置输出。
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