[发明专利]测试系统及方法无效

专利信息
申请号: 200410081774.8 申请日: 2004-12-31
公开(公告)号: CN1801133A 公开(公告)日: 2006-07-12
发明(设计)人: 徐志仁;陈达伦 申请(专利权)人: 广达电脑股份有限公司
主分类号: G06F17/00 分类号: G06F17/00;G06F11/22
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 黄小临;王志森
地址: 台湾省*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种测试系统,包括测试案例产生单元、测试项目暨方式知识库、待测机台信息采集单元及测试判定单元。测试案例产生单元用以根据测试需求而产生测试案例。测试项目暨方式知识库用以根据测试案例而提供相对应的测试项目及测试方式,待测机台信息采集单元用以采集待测机台上的系统信息。测试判定单元用以根据测试方式检查系统信息中是否有测试项目,而判定测试项目通过测试或未通过测试。
搜索关键词: 测试 系统 方法
【主权项】:
1.一种测试系统,包括:测试案例产生单元,用以根据测试需求而产生测试案例;测试项目暨方式知识库,与该测试案例产生单元连接,用以根据该测试案例而提供相对应的测试项目及测试方式;待测机台信息采集单元,用以采集待测机台上的系统信息;以及测试判定单元,与该测试项目暨方式知识库及该待测机台信息采集单元连接,用以根据该测试方式检查该系统信息中是否有该测试项目,而判定该测试项目通过测试或未通过测试。
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