[发明专利]能以数字量观测降压转换器输出的半导体集成电路无效
| 申请号： | 200410061747.4 | 申请日： | 2004-06-30 |
| 公开（公告）号： | CN1595807A | 公开（公告）日： | 2005-03-16 |
| 发明（设计）人： | 中野直佳;那须隆 | 申请（专利权）人： | 株式会社瑞萨科技 |
| 主分类号： | H03M1/12 | 分类号： | H03M1/12 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 刘宗杰;叶恺东 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 由于利用芯片上的A/D转换器对VDC电路的输出电压进行了A/D转换，所以可以将VDC电路的输出电压VDCout作为数字量进行观测，因而测定变得容易。令人满意的是通过减少端子可以减小芯片尺寸。另外，可以将用于输出电压VDCout的端子用于其它用途。因此，可以提供在求得批量生产检测容易的同时，还能够减少批量生产检测工时的半导体集成电路。 | ||
| 搜索关键词： | 数字 观测 降压 转换器 输出 半导体 集成电路 | ||
【主权项】：
1.一种半导体集成电路，具备：接受从外部施加的外部电源电压的第1端子；降低上述外部电源电压、产生内部电压的电压发生电路；使用上述内部电压的内部电路；将上述内部电压从模拟值转换为数字值向外部输出数字信号的A/D转换电路；以及用于将上述数字信号输出至外部的第2端子。
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