[发明专利]单元重整测试的方法有效
| 申请号： | 200410057309.0 | 申请日： | 2004-08-26 |
| 公开（公告）号： | CN1740985A | 公开（公告）日： | 2006-03-01 |
| 发明（设计）人： | 张正隆;高仕嵘 | 申请（专利权）人： | 威盛电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/28 | 分类号： | G06F11/28 |
| 代理公司： | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 | 代理人： | 梁挥;祁建国 |
| 地址： | 台湾省*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种单元重整测试的方法，于测试端产生一样本数据；产生一对照组；再调整一重整单元；接着产生一实验组；再根据比对实验组与对照组的结果，判断调整后的重整单元，是否仍维持该模块应有的功效。本发明可应用于测试软硬件的内部功能模块，通过调整一重整单元，并重复上述步骤达到确保重整后功能如常、改善模块功能和节省成本的目的。 | ||
| 搜索关键词： | 单元 重整 测试 方法 | ||
【主权项】：
1.一种单元重整测试的方法，针对一重整单元的最佳化调整的单元重整测试，该方法包括有如下步骤：产生一样本数据；输入该样本数据至该重整单元，产生一实验组数据；调整该重整单元；输入该样本数据至调整过的该重整单元，产生一对照组数据；以及比对该实验组数据与该对照组数据，通过比较结果判断是否该重整单元经调整后仍维持原有功效。
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