[发明专利]信息处理装置和设置温度校正方法有效
| 申请号： | 200410049057.7 | 申请日： | 2004-06-11 |
| 公开（公告）号： | CN1573655A | 公开（公告）日： | 2005-02-02 |
| 发明（设计）人： | 福岛利明;野村太一郎;田中顺;大下茂 | 申请（专利权）人： | 国际商业机器公司 |
| 主分类号： | G06F1/20 | 分类号： | G06F1/20 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 康建峰 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明的信息处理装置包括：中央处理器；温度控制信息存储单元，用于结合设置温度对温控处理进行存储，所执行的温控处理用于降低中央处理器的温度；温度测量单元，用于测量中央处理器中测量位置的测量温度；温度检测单元，用于检测中央处理器中的检测位置是否达到检测温度；偏移计算单元，用于计算偏移，偏移作为检测温度与温度检测单元检测到检测温度时由温度测量单元所测量的测量温度之间的差距；设置温度校正单元，用于基于偏移，计算由温度控制信息存储单元所存储的设置温度的校正值；和温度控制执行单元，用于当温度测量单元所测量的测量温度达到设置温度的校正值时，执行由温度控制信息存储单元结合设置温度所存储的温控处理。 | ||
| 搜索关键词： | 信息处理 装置 设置 温度 校正 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于测量温度并基于所测温度执行温控处理的信息处理系统，所述系统包括：因操作而发热的设备；温度控制信息存储单元，用于结合作为预置温度的设置温度对温控处理进行存储，所执行的温控处理用于降低设备的温度；温度测量单元，用于将测量温度作为设备中测量位置的温度进行测量；温度检测单元，用于检测在设备中的检测位置是否达到作为预定温度的第一检测温度；偏移计算单元，用于计算第一偏移，第一偏移作为第一检测温度与温度检测单元检测到第一检测温度时由温度测量单元所测量的测量温度之间的差距；设置温度校正单元，用于基于偏移计算单元所计算的第一偏移，计算由温度控制信息存储单元所存储的设置温度的校正值；和温度控制执行单元，用于当温度测量单元所测量的测量温度达到设置温度的校正值时，执行由温度控制信息存储单元结合设置温度所存储的温控处理。
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