[发明专利]光学信息记录介质及其制造方法无效
| 申请号： | 200410048920.7 | 申请日： | 2004-06-14 |
| 公开（公告）号： | CN1573993A | 公开（公告）日： | 2005-02-02 |
| 发明（设计）人： | 宇野真由美;儿岛理惠;山田升 | 申请（专利权）人： | 松下电器产业株式会社 |
| 主分类号： | G11B7/24 | 分类号： | G11B7/24;G11B7/26 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人： | 陈建全 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明的光学信息记录介质中包含的记录层14，含有低氧化物Te－O－M(M是从金属元素、半金属元素以及半导体元素之中选择的至少一种元素)或低氧化物A－O(A是从Sb、Sn、In、Zn、Mo以及W之中选择的至少一种元素)与材料X(X是从氟化物、碳化物、氮化物以及氧化物之中选择的至少一种化合物)的混合物。其中所谓低氧化物，是指氧元素的组成比处于比按化学计量组成的氧元素的组成比小的范围内的氧化物。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 信息 记录 介质 及其 制造 方法 | ||
【主权项】：
1.一种光学信息记录介质，其含有记录层，其中通过激光束照射所述记录层而进行信息的记录与再现，其特征在于：所述记录层含有低氧化物Te-O-M与材料X的混合物，其中M是从金属元素、半金属元素以及半导体元素之中选择的至少一种元素，X是从氟化物、碳化物、氮化物以及除Te氧化物外的氧化物之中选择的至少一种化合物，其中低氧化物是指氧元素的组成比处于比按化学计量组成的氧元素的组成比小的范围内的氧化物。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于松下电器产业株式会社，未经松下电器产业株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200410048920.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 信息记录介质、信息记录方法、信息记录设备、信息再现方法和信息再现设备
- 信息记录装置、信息记录方法、信息记录介质、信息复制装置和信息复制方法
- 信息记录装置、信息再现装置、信息记录方法、信息再现方法、信息记录程序、信息再现程序、以及信息记录介质
- 信息记录装置、信息再现装置、信息记录方法、信息再现方法、信息记录程序、信息再现程序、以及信息记录介质
- 信息记录设备、信息重放设备、信息记录方法、信息重放方法、以及信息记录介质
- 信息存储介质、信息记录方法、信息重放方法、信息记录设备、以及信息重放设备
- 信息存储介质、信息记录方法、信息回放方法、信息记录设备和信息回放设备
- 信息记录介质、信息记录方法、信息记录装置、信息再现方法和信息再现装置
- 信息终端，信息终端的信息呈现方法和信息呈现程序
- 信息创建、信息发送方法及信息创建、信息发送装置
