[发明专利]全集成电化学检测微流控芯片及制作方法无效

专利信息
申请号: 200410041174.9 申请日: 2004-07-05
公开(公告)号: CN1595134A 公开(公告)日: 2005-03-16
发明(设计)人: 夏兴华;刘爱林;何凤云 申请(专利权)人: 南京大学
主分类号: G01N27/403 分类号: G01N27/403;G01N27/416;G01N27/27
代理公司: 南京苏高专利事务所 代理人: 成立珍
地址: 210008*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 全集成电化学检测微流控芯片,设有相同的微流控芯片管道、电极、缓冲溶液池打印图形的透明塑料基片和盖片;在盖片相应缓冲溶液池相应位置打孔,在基片相应位置印刷导电电极;盖片和基片的图形相互重叠层合,芯片微管道是矩形管道,四壁构成为:上下两壁为透明基片和盖片材料,两侧壁为打印墨材料,并对所述层合的盖片和基片用封塑胶片封塑,封塑胶片亦在相应缓冲溶液池口位置打孔,得到全集成电化学检测微流控芯片。制备上述芯片的方法不需要任何模板和任何专用的设备,且制作步骤简单,材料成本极低,任何实验室都可以大规模生产,因此该芯片制作方法极易被推广使用。
搜索关键词: 集成 电化学 检测 微流控 芯片 制作方法
【主权项】:
1、全集成电化学检测微流控芯片,其特征是设有相同的微流控芯片管道、电极、缓冲溶液池打印图形的透明塑料基片和盖片;在盖片相应缓冲溶液池相应位置打孔,在基片相应位置印刷导电电极;盖片和基片的图形相互重叠层合,芯片微管道是矩形管道,四壁构成为:上下两壁为透明基片和盖片材料,两侧壁为打印墨材料,并对所述层合的盖片和基片用封塑胶片封塑,封塑胶片亦在相应缓冲溶液池口位置打孔,得到全集成电化学检测微流控芯片。
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