[发明专利]一种精确测定色谱峰形参数和重叠峰面积的方法

摘要

一种精确测定色谱峰形参数和重叠峰面积的方法，其特征在于：(1)给定待测定色谱流出曲线(t_k，h_k)和峰数目q，t_k，h_k分别为流出曲线段中k点的时间值和色谱信号值，k＝1，2，…，n，n为总点数；(2)以高斯模型或指数修正的高斯模型为目标函数，对上述待测定色谱流出曲线进行峰拟合，通过非线性最小二乘法求出目标函数即拟合流出曲线的最佳参数，进而根据拟合流出曲线与待测定色谱流出曲线的对应关系，对应出待测定色谱峰形参数和重叠峰面积。本发明能快速、准确、方便地测量色谱峰形参数和重叠峰面积。

主权项

1、一种精确测定色谱峰形参数和重叠峰面积的方法，其特征在于：(1)给定待测定色谱流出曲线(tk，hk)和峰数目q，tk，hk分别为流出曲线段中k点的时间值和色谱信号值，k＝1，2，…，n，n为总点数；(2)以高斯模型或指数修正的高斯模型为目标函数，对上述待测定色谱流出曲线进行峰拟合，通过非线性最小二乘法求出目标函数即拟合流出曲线的最佳参数，进而根据拟合流出曲线与待测定色谱流出曲线的对应关系，对应出待测定色谱峰形参数和重叠峰面积；对于对称色谱峰的目标函数采用高斯模型，数学表达是：$h\left(t\right)=\frac{1}{\sqrt{2\pi }\sigma }\exp [-\frac{1}{2}{\left(\frac{t-t_G}{\sigma }\right)}^2];$ 对于非对称色谱峰的目标函数采用指数修正的高斯模型，数学表达是：$h\left(t\right)=\frac{A}{\tau }\exp (\frac{{\sigma }^2}{2{\tau }^2}-\frac{t-t_G}{\tau }){\int }_{-\infty }^{\tau }\frac{1}{\sqrt{2\pi }}\exp (-y^2/2)·\mathrm{dy};$ 其中，h(t)为拟合的流出曲线高度；base为基线的拟合高度；A是高斯函数或修正的高斯函数的积分面积，对应于单一的待测定色谱峰的峰面积；tG是高斯函数部分的中心时间，对应于单一待测定色谱峰的时间参数；σ是高斯函数部分的标准偏差，对应于单一待测定色谱峰的展宽参数；τ是高斯函数部分的衰减时间，对应于单一待测定色谱峰的拖尾参数。