[发明专利]中央处理器温度自动测试系统及方法

摘要

本发明提供一种中央处理器温度自动测试系统及方法。该系统包括一中央处理器、一温度感测单元、一数据处理单元、一数据存储单元、一温度监控单元及一结果输出单元。该中央处理器温度自动测试方法首先设置一中央处理器最高工作温度及一温度测试时间，接着，执行中央处理器当前工作温度测试，并将该当前温度与设置的最高工作温度及温度测试时间比较，发出相应控制信号，最后，将测试结果显示给测试人员，流程结束。通过本发明提供的中央处理器温度自动测试系统及方法，可实现自动测试并记录中央处理器的工作温度，并将测试结果显示给测试人员，便于后续产品开发及品质改进。

主权项

1.一种中央处理器温度自动测试系统，其特征在于，该中央处理器温度自动测试系统包括：一中央处理器，用于处理数据信号及控制信号；一温度感测单元，用于感知和测量中央处理器的当前工作温度，并将中央处理器的当前工作温度输出至数据处理单元；一资料存储单元，用于存储中央处理器当前工作温度；一温度监控单元，用于发送控制信号，指示中央处理器的运作及停机；一数据处理单元，用于接收温度感测单元输出的中央处理器当前工作温度，并将温度数据处理结果输出，该数据处理单元包括：一温度资料存储模块，用于存储各次中央处理器温度测试结果，并将各次温度测试结果组成资料记录表；一温度数据采集模块，用于从资料存储单元获取中央处理器温度资料记录表；一温度设置模块，用于设置中央处理器的最高工作温度；一温度比较模块，用于比较当前中央处理器工作温度与被设置的最高工作温度；一测试时间设置模块，用于设置中央处理器的测试时间；一测试时间比较模块，用于比较当前已经历的测试时间与被设置的测试时间。