[其他]测光装置在审
| 申请号： | 101985000007724 | 申请日： | 1985-10-21 |
| 公开（公告）号： | CN1003394B | 公开（公告）日： | 1989-02-22 |
| 发明（设计）人： | 藤田茂 | 申请（专利权）人： | 三菱电机株式会社 |
| 主分类号： | 分类号： | ||
| 代理公司： | 中国专利代理有限公司 | 代理人： | 吴秉芬 |
| 地址： | 日本东京都千*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明是关于具有通过其光的透射量根据温度而变化的材料进行受光，并将光量变换为电量的光接收部件的光检测装置，通过设置由恒流源激励部件所激励的发光二极管光源，藉着检测这个发光二极管的正向电压并以这检出值来补正光接收部件的输出，消除上述发光二极管的由于温度变化而引起波长变化所造成的测定误差。 | ||
| 搜索关键词： | 测光 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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