[其他]一种用于取样保持方面的电路在审
| 申请号： | 101985000002772 | 申请日： | 1985-04-01 |
| 公开（公告）号： | CN85102772B | 公开（公告）日： | 1988-10-12 |
| 发明（设计）人： | 梁国宁 | 申请（专利权）人： | 中国科学院高能物理所 |
| 主分类号： | 分类号： | ||
| 代理公司： | 中国科学院化学科研所 | 代理人： | 汤保平 |
| 地址： | 北京市玉泉*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种取样保持电路，已有技术中的取样保持电路的开门顶降达１０～１５％μｓ不能正确反映被测信号的情况，增加了一个二极管（２）后，达到了令人满意的效果，开门顶降＜１％／μｓ。本电路由快放大器（１），二极管（２），电容（３），双向模拟开关（４）、（５）、（６），存储电容（７），电压跟随器（８）组成。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 取样 保持 方面 电路 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院高能物理所，未经中国科学院高能物理所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/101985000002772/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：长波长光导纤维预制件的制法
- 下一篇：利用封闭边界产生静电四极场的结构
- 同类专利
- 专利分类
