[发明专利]集成电路中提取筛选的互连线路的寄生电阻电容的方法与系统有效
| 申请号： | 03820657.9 | 申请日： | 2003-07-16 |
| 公开（公告）号： | CN1679031A | 公开（公告）日： | 2005-10-05 |
| 发明（设计）人： | M·S·夏尔马;D·M·纽马克;T·辛格;J·A·贝尔 | 申请（专利权）人： | 先进微装置公司 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 北京纪凯知识产权代理有限公司 | 代理人： | 戈泊;程伟 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明揭示了一种提取寄生电阻及电容值以便仿真一集成电路的性能的方法(200)、系统(100)及计算机程序产品。可识别一集成电路中的一选定数目的互连线路(204)(相关互连线路)。可修整其中包含该集成电路中一列表的晶体管的网表，其方式为在该网表中选择相关互连线路的驱动端上的各沟道连接区域中的那些晶体管、以及相关互连线路的接收端上的那些晶体管(205，206)。可提取被连接到这些相关互连线路的各布局层的寄生电阻及电容值(208)。然后可使这些提取的寄生电阻及电容值与被连接到该修整的网表中的那些布局层的晶体管相关联(209)。通过以前文所述的方式提取寄生电阻及电容值，即可进行计算较不繁复的RC提取，因而可使用较少的内存及处理能力。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 提取 筛选 互连 线路 寄生 电阻 电容 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种提取寄生电阻及电容值以仿真一集成电路的性能的方法，该方法包含下列步骤：识别一集成电路中的一互连线路(204)；识别该被识别的互连线路的一驱动端上的一个或多个沟道连接区域中的一个或多个晶体管(205)；识别该被识别的互连线路的一接收端上的一个或多个晶体管(205)；该集成电路的一整体布局提取被连接到该被识别的互连线路的各布局层(207)；提取每个这些被提取的布局层的寄生电阻及电容值(208)；以及使每个这些被提取的布局层的这些被提取的电阻及电容值与该被识别的互连线路的该驱动端上的及该接收端上的这些被识别的一个或多个晶体管相关联(209)。
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