[发明专利]用于磁结合测定的自校正系统有效
| 申请号： | 03819386.8 | 申请日： | 2003-06-05 |
| 公开（公告）号： | CN1675544A | 公开（公告）日： | 2005-09-28 |
| 发明（设计）人： | 宋旭东;R·凯洛 | 申请（专利权）人： | 金伯利－克拉克环球有限公司 |
| 主分类号： | G01N33/543 | 分类号： | G01N33/543 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 韦欣华;庞立志 |
| 地址： | 美国威*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 提供了一种自校正磁结合测定(例如，夹层体式，竞争性等)用于检测测试样品中分析物的存在或量。所述磁结合测定包括能够生成检测信号的检测探针(例如荧光非磁性颗粒)和能够生成校正信号的校正探针(例如荧光磁性颗粒)。测试样品中分析物的量与经校正信号强度校正的检测信号强度成比例。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 结合 测定 校正 系统 | ||
【主权项】：
1.一种用于检测测试样品中分析物的存在或量的自校正磁结合测定，所述磁结合测定包括能够生成检测信号的检测探针和能够生成校正信号的校正探针，其中测试样品中分析物的量与经校正信号强度校正的检测信号强度成比例。
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