[发明专利]用于在基于扫描的集成电路中传输扫描图案的方法和装置无效
| 申请号： | 03802114.5 | 申请日： | 2003-01-16 |
| 公开（公告）号： | CN1615443A | 公开（公告）日： | 2005-05-11 |
| 发明（设计）人： | 王荣腾;王信博;温晓青;林孟祺;林仕鸿;叶大嘉;蔡森炜;K·S·埃布德尔－哈非茨 | 申请（专利权）人： | 美国华腾科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G06F11/00 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人： | 李家麟 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 用于减少基于扫描集成电路中的ATE(自动测试设备)(202)的测试数据量和测试实施时间的传输器(208)、系统(201)和方法。基于扫描集成电路包含多路扫描链、每个扫描链包括连续连接的多路扫描单元。传输器(208)是连接至任意虚拟扫描控制器和任意扫描连接器的组合逻辑网络。虚拟扫描控制器控制传输器(208)的操作。该系统传输存储进ATE(202)中的虚拟扫描图案并通过传输器产生传输扫描图案(219)以用于测试基于集成电路中的测试制造错误。可以有效增加通过ATE(202)提供的扫描链的数量。该方法进一步用于重新排序在选择出的扫描链中的扫描单元，以产生传输扫描图案和虚拟扫描图案，并合成在基于扫描集成电路中的传输器和压实工具。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 基于 扫描 集成电路 传输 图案 方法 装置 | ||
【主权项】：
1、具有接受影像虚拟扫描图案的传输扫描输入的传输器，其通过所述传输扫描输入接收虚拟扫描图案，用于产生传输扫描图案以测试有基于扫描的集成电路，有基于扫描的集成电路包括多路扫描链、每个扫描链包括串联连续连接的多个路扫描单元，所述传输器包括：a)包括一个或多个逻辑门的组合逻辑网络包括一个或多个逻辑门，逻辑门包括AND门、OR门、NAND门、NOR门、XOR门、XNOR门、多路转换器、缓冲器、转换器或上面结构的任意组合。
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