[发明专利]单板老化环节的测试方法有效
| 申请号： | 03155473.3 | 申请日： | 2003-08-30 |
| 公开（公告）号： | CN1592182A | 公开（公告）日： | 2005-03-09 |
| 发明（设计）人： | 朱靖华 | 申请（专利权）人： | 华为技术有限公司 |
| 主分类号： | H04J14/02 | 分类号： | H04J14/02;H04B10/08 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518129广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种波分复用设备中单板老化环节的测试方法，该方法为：通过固定衰减器将待测的光波长转换器类单板中相邻两单板的发送端口和接收端口相连以形成环回链路，并在该环回链路中串接系统分析仪；下发测试命令使系统分析仪在所述环回链路中产生测试信号；检查系统分析仪的误码状态；以及在系统分析仪测试到误码时通过查询老化插框中的主控板来定位出现误码的单板。 | ||
| 搜索关键词： | 单板 老化 环节 测试 方法 | ||
【主权项】：
1、一种单板老化环节的测试方法，该方法在实现过程中利用了插框中的主控板，其特征在于，包括步骤：通过固定衰减器将待测单板中相邻两单板的发送端口和接收端口相连以形成环回链路，并在该环回链路中串接系统分析仪；下发测试命令使系统分析仪在所述环回链路中产生测试信号；检查系统分析仪的误码状态；以及在系统分析仪测试到误码时通过查询插框中的主控板来定位出现误码的单板。
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