[发明专利]信号统计测定有效
| 申请号： | 03154503.3 | 申请日： | 2003-07-01 |
| 公开（公告）号： | CN1495414A | 公开（公告）日： | 2004-05-12 |
| 发明（设计）人： | W·J·沙诺夫斯基 | 申请（专利权）人： | 三菱电机株式会社 |
| 主分类号： | G01D21/00 | 分类号： | G01D21/00 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 吴立明;张志醒 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 可分析信号来确定表示例如，信号的可预测性或时间可反转性的统计特性。检查该信号以便定位与具有预定斜率的预定电平的交点一致的事件。结合该信号的多个型式。该型式相对于彼此移动与检测事件的间隔一致的量。最终表示的形状提供有关信号的统计信息。 | ||
| 搜索关键词： | 信号 统计 测定 | ||
【主权项】：
1、一种用于分析输入信号的统计特性的装置，所述装置包括：用于接收信号的信号输入装置；耦合于所述输入装置，用于检测在其上信号电平越过具有预定斜率的预定电平的事件的装置；用于结合所述信号的多个型式的装置，所述型式相对于彼此移动与所述事件的间隔一致的量，以形成所述信号的表示；以及用于基于所述表示的形状以及所述信号的统计特性的表示，测量参数的装置。
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