[发明专利]用于表征电路板测试覆盖率的方法和设备无效
| 申请号： | 03147707.0 | 申请日： | 2003-06-23 |
| 公开（公告）号： | CN1479111A | 公开（公告）日： | 2004-03-03 |
| 发明（设计）人： | 肯尼思·P·帕克;凯瑟琳·J·赫德;埃里克·A·拉莫斯 | 申请（专利权）人： | 安捷伦科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京东方亿思专利代理有限责任公司 | 代理人： | 杜娟 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于表征电路板测试覆盖率的方法和设备。在一种方法中，对于电路板列举潜在的缺陷性质，而不考虑潜在的缺陷性质可能如何被测试。对于每一所列举的潜在的缺陷性质，产生一个性质分数。每个性质分数指示测试组合是否对该潜在的缺陷性质进行了测试。然后，性质分数被组合来表征测试组合的电路板测试覆盖率。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 表征 电路板 测试 覆盖率 方法 设备 | ||
【主权项】：
1.一种用于表征电路板测试覆盖率的方法，包括：a)列举电路板潜在的缺陷性质，而不考虑潜在的缺陷性质可能如何被测试；b)对于每一所列举的潜在的缺陷性质，产生指示测试组合是否对该潜在的缺陷性质进行测试的性质分数；和c)组合性质分数来表征该测试组合的电路板测试覆盖率。
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