[发明专利]坐标检测装置无效
申请号: | 02802275.0 | 申请日: | 2002-06-28 |
公开(公告)号: | CN1464969A | 公开(公告)日: | 2003-12-31 |
发明(设计)人: | 加藤洋 | 申请(专利权)人: | 奥林巴斯光学工业株式会社 |
主分类号: | G01B11/00 | 分类号: | G01B11/00;G01M11/00;G02B21/36 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人: | 黄剑锋 |
地址: | 暂无信息 | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种坐标检测装置。其中,在与多个发光元件(71)的排列方向相同的方向上串连连接多个、例如四个坐标显示板(72),所述坐标显示板是将多个发光元件(71)成一列地等间隔安装构成的,使该发光体(70)移动到玻璃基板(3)的上方,从而可以对例如:液晶显示器或有机EL显示器等平板显示器(FPD)中使用的玻璃基板等半导体玻璃基板进行表面缺陷检查。 | ||
搜索关键词: | 坐标 检测 装置 | ||
【主权项】:
1、一种坐标检测装置,其特征在于,具有:规则地呈直线状配置多个发光元件而形成的发光体,和使前述发光体上的特定的前述发光元件发光的发光驱动装置。
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