[实用新型]通用型测试箱无效
申请号: | 02231667.1 | 申请日: | 2002-04-24 |
公开(公告)号: | CN2549474Y | 公开(公告)日: | 2003-05-07 |
发明(设计)人: | 王振泙 | 申请(专利权)人: | 神基科技股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;G01R31/26;G01R31/28 |
代理公司: | 上海专利商标事务所 | 代理人: | 任永武 |
地址: | 台湾省新竹科学工*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | 一种通用型测试箱,用于对一电子组件进行操作环境仿真测试,包括有一箱体,具有一容置空间以及位于该容置空间一侧的一门板,可通过该开启该门板,将该电子组件置入该箱体的容置空间;一电源供应器,装设于该箱体一侧;一个以上的连接插头,连接于该电源供应器以及该电子组件,以提供该电子组件工作所需的电压;以及一温度调整器,装设于该箱体内,可改变该箱体的温度。它可仿真各种实机操作的环境,且可设置成堆栈放置于箱体内,从而大幅节省测试的空间以及时间。 | ||
搜索关键词: | 通用型 测试 | ||
【主权项】:
1.一种通用型测试箱,用于对一电子组件进行操作环境仿真测试,其特征在于,该测试箱包括有:一箱体,具有一容置空间以及位于该容置空间一侧的一门板,可通过该开启该门板,将该电子组件置入该箱体的容置空间;一电源供应器,装设于该箱体一侧;一个以上的连接插头,连接于该电源供应器以及该电子组件,以提供该电子组件工作所需的电压;以及一温度调整器,装设于该箱体内,可改变该箱体的温度。
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