[实用新型]探针测试装置无效

专利信息
申请号: 02200491.2 申请日: 2002-01-09
公开(公告)号: CN2519281Y 公开(公告)日: 2002-10-30
发明(设计)人: 吕金湶 申请(专利权)人: 中台探针实业有限公司
主分类号: G01R1/073 分类号: G01R1/073;G01R31/28
代理公司: 北京集佳专利商标事务所 代理人: 王学强
地址: 台湾省台北县*** 国省代码: 台湾;71
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种探针测试装置,其在一可供在表面放置待测电路板的测试平台接近侧端缘处分别设有成排纵向及横向探针;该等成排探针分别设有多数间隔探针,此等探针均被定位于探针座,且每一探针座固接于一共同轴,并使共同轴两端接合连动于导块,该等导块被接合于两侧预设承架的内侧导轨;依上述成排探针因而能以预设气动控制系统驱控使其先行上升以加大探针与待测电路板间的操作空间,并在探针受控偏转后下降探测。在较佳实施例中,平台底面还可设置一中间板及一底板,供在平台与中间板之间预设一倾斜高速机构,而在中间板及底板之间预设一高度调整机。
搜索关键词: 探针 测试 装置
【主权项】:
1、一种探针测试装置,其在一可供在表面放置待测电路板的测试平台接近侧端缘处分别设有成排纵向及横向探针;该等成排探针分别设有多数间隔探针,此等探针均被定位于探针座,每一探针座被固接于一共同轴,并使共同轴两端接合连动于导块;该等导块被接合于两侧预设承架的内侧导轨;依上述成排探针因而能以预设气动控制系统驱控使其先行上升以加大探针与待测电路板间的操作空间,并在探针受控偏转后下降探测。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中台探针实业有限公司,未经中台探针实业有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/02200491.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top