[发明专利]程序变换系统与夹具设计系统无效
| 申请号： | 02147342.0 | 申请日： | 2002-10-14 |
| 公开（公告）号： | CN1438490A | 公开（公告）日： | 2003-08-27 |
| 发明（设计）人： | 山田强 | 申请（专利权）人： | 三菱电机株式会社 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 杨凯,王忠忠 |
| 地址： | 暂无信息 | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 为了在须用多台不同的测试机进行LSI测试的场合，减轻因测试机更换而引起的工作负担，本发明提出了下述解决方法：通过电路模拟器13，以测试机参数、夹具参数、芯片参数作为输入值对每台测试机进行模拟；通过差值取得部件14求出模拟结果即差值数据。基于取得的差值数据，通过程序变换部件15，将第一测试机用的测试程序变换为第二测试机用的测试程序。 | ||
| 搜索关键词： | 程序 变换 系统 夹具 设计 | ||
【主权项】：
1.一种程序变换系统，其特征在于包括：基于表示半导体集成电路之电路特性的芯片参数、表示所述半导体集成电路装载夹具之电路特性的夹具参数和表示连接于半导体集成电路装载夹具的测试机之电路特性的测试机参数，对所述半导体集成电路至所述测试机的传输线路的特性进行模拟的模拟器；基于所述模拟器的模拟结果，求出预定半导体集成电路至第一测试机的传输线路特性和所述预定半导体集成电路至第二测试机的传输线路特性之间的差值的差值取得部件；以及基于用所述差值取得部件求出的差值，将按照所述第一夹具和第一测试机编写的第一测试程序变换为所述第二夹具和第二测试机用的第二测试程序的程序变换部件。
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