[发明专利]通讯设备性能测试方法无效
| 申请号： | 02144189.8 | 申请日： | 2002-10-18 |
| 公开（公告）号： | CN1490945A | 公开（公告）日： | 2004-04-21 |
| 发明（设计）人： | 李科锋 | 申请（专利权）人： | 华为技术有限公司 |
| 主分类号： | H04B17/00 | 分类号： | H04B17/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518057广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种通讯设备性能测试方法，包括如下步骤：在老化测试的同时进行内建成自测试BIST，系统设置有能获取老化信息的控制位，CPU通过控制位检测单板是否处于老化测试状态，根据老化测试状态相应地控制单板进行内建成自测试BIST，内建成自测试BIST采用循环测试，其测试结果保存在相应的存储空间；测试结果的保存采用双备份数据并加上相应的标志位，双备份数据包括循环测试中前两轮的测试结果，标志位则显示取得测试结果时相应的测试状态，测试结果以最新一轮的有效测试结果为准。 | ||
| 搜索关键词： | 通讯设备 性能 测试 方法 | ||
【主权项】：
1.一种通讯设备性能测试方法，其特征在于：它采用如下步骤：A、在对单板进行老化测试的同时，设置获取老化信息的控制位，检测单板是否处于老化测试状态；B、经控制位检测后，若控制位为真，显示单板处于老化测试状态，则执行内建成自测试(BIST)；C、将有关内建成自测试(BIST)的测试结果保存在相应的存储空间。
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