[发明专利]以波形判断连接失效发生位置的方法有效
| 申请号： | 02141501.3 | 申请日： | 2002-08-30 |
| 公开（公告）号： | CN1479109A | 公开（公告）日： | 2004-03-03 |
| 发明（设计）人： | 徐鑫洲 | 申请（专利权）人： | 威盛电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/02;G06F11/22 |
| 代理公司： | 隆天国际知识产权代理有限公司 | 代理人： | 楼仙英;潘培坤 |
| 地址： | 中国*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种以波形判断连接失效发生位置的方法，能够以非破坏的方式判断出组件连接失效区域并加以分析，该方法是利用时域反射测量器测量样本的反射波形，并记录储存的，再测量待测件的反射波形且记录的，并比对待测件及样本的反射波形，借此既可判断待测件内的连接失效位置，以提供生产者了解其制程及生产问题。 | ||
| 搜索关键词： | 波形 判断 连接 失效 发生 位置 方法 | ||
【主权项】：
1、一种以波形判断连接失效发生位置的方法，其步骤包括：将讯号输入样本，并接收储存该样本的反射波，用以建立样本反射波模型；将讯号输入待测件并记录其反射波讯号；及将该待测件的反射波与该样本的反射波模型比对，即可判断出连接失效发生位置。
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