[发明专利]测试式样产生方法与其装置无效
| 申请号： | 02132097.7 | 申请日： | 2002-09-10 |
| 公开（公告）号： | CN1482541A | 公开（公告）日： | 2004-03-17 |
| 发明（设计）人： | 王恒毅 | 申请（专利权）人： | 华邦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F9/455 | 分类号： | G06F9/455 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人： | 陈红 |
| 地址： | 台湾省新竹*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 一种测试式样产生方法与其装置，其产生方法具有：以测试式样转成程序对待测元件作模拟测试以得到模拟测试结果；将此程序写入存储装置中；使用存储装置对待测元件作实际测试以得到实际测试结果；比较模拟测试结果与实际测试结果，如果相符，使用此存储装置对待测元件作连续测试且测试过程回圈间没有延迟时间存在，则此测试式样产生方完成，如果不相符，则重新检视与调整程序，直到完成；本发明的以软件写入硬件对待测元件作测试的方式，使测试式样来源对集成电路作测试且于测试过程中不会出现因动态回圈所造成延迟时间的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 式样 产生 方法 与其 装置 | ||
【主权项】：
1.一种测试式样产生方法，其特征是：其步骤包括：提出适用于一待测元件的一测试式样；列出并分析该测试式样；将该测试式样以一数字电路描述语言描述并模拟该数字电路描述语言以得到一模拟测试式样，将该模拟测试式样对该待测元件作测试以得到一模拟测试结果；将该数字电路描述语言写入至一存储装置中；使用该存储装置内的该数字电路描述语言对该待测元件作测试以得到一实际测试结果；以及比较该模拟测试结果以及该实际测试结果，如果相符，使用该存储装置对该待侧元件作连续测试，且测试过程中，该测试式样产生信号的回圈间没有一延迟时间；如果不相符，则检视与调整该数字电路描述语言以重新写入该存储装置。
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