[发明专利]圆筒体的变形量测定装置无效
申请号: | 02118385.6 | 申请日: | 2002-04-26 |
公开(公告)号: | CN1382954A | 公开(公告)日: | 2002-12-04 |
发明(设计)人: | 坂口岩;竹重义夫 | 申请(专利权)人: | 美蓓亚株式会社 |
主分类号: | G01B11/16 | 分类号: | G01B11/16;G01B11/30;//G01B12120 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 何腾云 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 一种圆筒体的变形量测定装置,包括设置于平坦面2上的固定直线导轨部3、圆筒体移送机构部4、基准柱部5、激光扫描测微仪6、及控制部7;该圆筒体移送机构部4在将圆筒体C一端侧的周面接触在固定直线导轨部3的状态下使其转动;该基准柱部5在相对圆筒体C的转动方向Fc垂直的方向上配置在与圆筒体C离开规定距离的位置;该激光扫描测微仪6由朝转动方向Fc投射的激光L同时扫描圆筒体C的上部和基准柱部5,测定圆筒体C与基准柱部5间的间隔W;该控制部7测定数据,求出变形量Ed。这样,可进行具有再现性的精度高的测定,同时,全自动化容易进行,而且可进行稳定性和可靠性高的测定。 | ||
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【主权项】:
1.一种圆筒体的变形量测定装置,用于测定圆筒体的径向变形量,其特征在于:具有设置于平坦面上的固定直线导轨部、圆筒体移送机构部、基准柱部、激光扫描测微仪、及控制部;该圆筒体移送机构部在将上述圆筒体一端侧的周面接触在上述固定直线导轨部的状态下使其转动;该基准柱部在相对上述圆筒体的转动方向垂直的方向上配置在与上述圆筒体仅离开规定距离的位置;该激光测微仪由朝上述转动方向投射的激光同时扫描上述圆筒体的另一端侧和上述基准柱部,测定上述圆筒体与上述基准柱部间的间隔;该控制部控制上述圆筒体移送机构部和上述激光扫描测微仪,而且处理上述激光扫描测微仪的测定数据,求出上述变形量。
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