[发明专利]输入/输出连续性测试模式电路无效
申请号: | 01822049.5 | 申请日: | 2001-11-28 |
公开(公告)号: | CN1486431A | 公开(公告)日: | 2004-03-31 |
发明(设计)人: | E·S·惠;D·R·富兰克林 | 申请(专利权)人: | 爱特梅尔股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/3185 | 分类号: | G01R31/3185 |
代理公司: | 上海专利商标事务所 | 代理人: | 李家麟 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 一种在集成电路器件中的连续性测试模式电路(20),该电路包括在连续性测试模式和正常工作模式之间进行转换的转换装置(28)。测试模式的特征是一个或多个输入销(22)和一个或多个输出销(32)进行直接电气连接以便可对销及芯片封装以及对芯片插口及电路板进行连续性测试。在正常工作模式时,芯片的工作不受测试模式电路的影响。该连续性测试电路可以测试机件插口和/或器件板的连续性以确保测试的正确性及器件编程的准确性。 | ||
搜索关键词: | 输入 输出 连续性 测试 模式 电路 | ||
【主权项】:
1.一种在集成电路器件中的连续性测试模式电路,该电路包括:至少一个输入销及至少一个输出销;一组正常工作中用的缓冲器,包括电气连接到该至少一个输入销的输入缓冲器以及电气连接到该至少一个输出销的输出缓冲器,以及用于在测试模式和正常工作模式之间进行转换的装置,所述测试模式的特征在于,该至少一个输入销经由正常工作中用的模式缓冲器直接连接到该至少一个输出销,而所述正常工作模式的特征在于,该至少一个输入销不直接连接于该所述至少一个输出销。
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