[发明专利]测试低通滤波器截止频率的内部自测方法无效

专利信息
申请号: 01816231.2 申请日: 2001-09-25
公开(公告)号: CN1466688A 公开(公告)日: 2004-01-07
发明(设计)人: H·苏苏马;H·伊斯 申请(专利权)人: 英特尔公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 王岳;张志醒
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 一种用于实现确定在混合信号集成电路(IC)中的滤波器电路的频率特性的内部自测(BIST)的方法和电路。该方法包括将一个被测量的电路(CUT)插入到一个看起来好像∑-δ调制回路的反馈回路中并且调节反馈回路以便使其在滤波器的截止频率处振荡。可以很容易地使用芯片上的计数器或者数字自动测试设备测量振荡频率。反馈回路最好包括一个比较器,一个相位延迟元件,诸如一个延迟线,和一个1位DAC,其中比较器被连接到CUT的输出端,1位DAC的输出端被连接到CUT的输入端。可以通过调节延迟线(即:一个n位长度的移位寄存器)来调谐反馈回路的相位延迟直到获得振荡频率。在低通滤波器电路的情况下,调谐的振荡频率对应于CUT的截止频率。
搜索关键词: 测试 滤波器 截止频率 内部 自测 方法
【主权项】:
1.一种用于确定嵌入在集成电路(IC)中的滤波器电路的频率特性的方法,包括:对应于反馈回路中的数字模块提供多个嵌入在集成电路中的数字元件;将滤波器电路连接到嵌入在集成电路中的多个数字元件以便将滤波器电路插入到反馈回路中;调节反馈回路的振荡频率直到反馈回路谐振;和确定回路谐振时的振荡频率,所述频率对应于滤波器电路的频率特性。
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