[发明专利]可调光学结构特征反馈控制无效
申请号: | 01808884.8 | 申请日: | 2001-03-06 |
公开(公告)号: | CN1427947A | 公开(公告)日: | 2003-07-02 |
发明(设计)人: | M·A·普特纳姆;R·N·布鲁卡托;M·A·达维斯;D·G·贝勒莫雷;W·A·赫尔姆 | 申请(专利权)人: | 塞德拉公司 |
主分类号: | G01D5/353 | 分类号: | G01D5/353;G02F1/01 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 崔幼平,章社杲 |
地址: | 美国康涅*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 一种可调光学装置,其具有一个压缩调节的光学结构和一个位移传感器。压缩调节的光学结构响应光学信号和位移传感器信号,用于提供压缩调节的光学结构信号,该信号包含关于压缩调节的光学结构的光学特征的变化的信息,且用于提供一个由压缩调节的光学结构的位移的变化引起的激励信号。位移传感器响应激励信号提供一个位移传感器信号,该信号包含关于压缩调节的光学结构的位移变化的信息。压缩调节的光学结构是一个全玻璃压缩单元,形状像狗骨。位移传感器是一个固定在全玻璃压缩单元上的电容器,用于测量两个平行相对的板之间的电容。 | ||
搜索关键词: | 可调 光学 结构 特征 反馈 控制 | ||
【主权项】:
1.一种可调光学装置,其包括:一个压缩调节的光学结构,它响应光学信号,且另外响应位移传感器信号,用于提供压缩调节的光学结构信号,所述信号包含关于该压缩调节的光学结构的光学特征的改变的信息,和用于另外提供由该压缩调节的光学结构的位移的变化引起的激励信号;和一个位移传感器,它响应所述激励信号,用于提供位移传感器信号,所述信号包含关于压缩调节的光学结构的位移的变化的信息。
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