[发明专利]多面体检验进给器和多面体检验设备无效
| 申请号： | 01803626.0 | 申请日： | 2001-12-27 |
| 公开（公告）号： | CN1429171A | 公开（公告）日： | 2003-07-09 |
| 发明（设计）人： | 木村孝;木川一洋 | 申请（专利权）人： | 株式会社东洋;琳得科株式会社 |
| 主分类号： | B65G47/22 | 分类号： | B65G47/22;B07C5/02 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 张祖昌 |
| 地址： | 暂无信息 | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种多面体检验设备(10)按照包括多面体检验进给器(12)的方式构制，所述多面体进给器具有通道构件，用于检验立方体芯块(W)的表面。多面体进给器(12)形成有V形槽，并包括两个设置在通道构件(22)中间的转动进给部分25A和25B。转动进给部分25A和25B分别具有相继的V形、U形和V形截面形状的槽。通道构件(22)设有一个射出器(18)，用于以彼此疏远的状态逐一移动芯块(W)，还设有用于检验芯块W表面的摄像机(13A至13D)，以及用于按照检验结果回收芯块的回收装置(30)。 | ||
| 搜索关键词： | 多面体 检验 进给 设备 | ||
【主权项】：
1.一种多面体检验进给器，包括一个向预定方向移动检验物品的通道构件，其特征在于：所述通道构件形成槽状，并设有一个转动进给部分，所述转动进给部分包括一条槽，该槽具有沿检验物品移动方向变化的右倾角和左倾角，从而使检验物品转动预定的角度。
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