[实用新型]金属化薄膜测试仪无效
| 申请号： | 01225863.6 | 申请日： | 2001-05-30 |
| 公开（公告）号： | CN2532487Y | 公开（公告）日： | 2003-01-22 |
| 发明（设计）人： | 顾志军;余柏南;杨成荣 | 申请（专利权）人： | 安徽铜峰电子(集团)公司 |
| 主分类号： | G01N27/00 | 分类号： | G01N27/00;G01N27/04;G01R31/12 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 244000 *** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 一种金属化薄膜测试仪，由高压发生器、电压取样电路、电压显示电路、过流保护电路、测试电极和工作台组成，其固定电极为具有一定表面积的导电板。工作台上还设有方阻测试装置，及表面质量观察装置，工作台一端连有膜卷支架。本实用新型采用大面积的导电板作电极，测量的耐压值可真实地反映薄膜实际耐压情况，另外将方阻测试、表面质量检查及静电吸附检查设备集中在一个工作台上，占用空间小，便于测试和管理。 | ||
| 搜索关键词： | 金属化 薄膜 测试仪 | ||
【主权项】：
1、一种金属化薄膜测试仪，由高压发生器、电压取样电路、电压显示电路、过流保护电路、测试电极、工作台组成，测试电极由固定在工作台上的活动电极和固定电极组成，其特征在于所述固定电极为具有一定表面积的导电板。
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